几十纳秒的荧光寿命的测定

几十纳秒的荧光寿命的测定

<正> 利用光学多道分析仪(OMAⅢ)的选通功能,配合使 1302型快脉冲发生器,可以测 出大于100ns的荧光寿命,若荧光寿命可以与探测器门脉冲宽度(最小值为5ns)相比拟,测得荧光寿命与实际荧光寿命有很大出入,而且探测器的“延展效应”展宽了有效门脉冲宽度。本文提出一种方法解决了此问题。 利用OMAⅢ的内插板1303型脉冲发生器的递增延时功能,可以探测到光脉冲随时间变化的三维光谱图(图略),光谱的峰值包络线与时间亡的函数关系为F(t),其半宽...

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Veröffentlicht in:量子电子学报 1992 (1), p.55-56
Hauptverfasser: 余仲秋, 沈书泊, 梁二军
Format: Artikel
Sprache:chi
Schlagworte:
荧光寿命
门脉冲宽度
探测器
脉冲发生器
半宽度
时间变化
包络线
峰值包络
光脉冲
最小值
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Beschreibung
Zusammenfassung:<正> 利用光学多道分析仪(OMAⅢ)的选通功能,配合使 1302型快脉冲发生器,可以测 出大于100ns的荧光寿命,若荧光寿命可以与探测器门脉冲宽度(最小值为5ns)相比拟,测得荧光寿命与实际荧光寿命有很大出入,而且探测器的“延展效应”展宽了有效门脉冲宽度。本文提出一种方法解决了此问题。 利用OMAⅢ的内插板1303型脉冲发生器的递增延时功能,可以探测到光脉冲随时间变化的三维光谱图(图略),光谱的峰值包络线与时间亡的函数关系为F(t),其半宽
ISSN:1007-5461