温度对电子辐照下聚酰亚胺表面充电的影响

为了研究温度、等离子体环境变化对航天器表面介质材料充电水平的影响,利用研制的温度可控航天器介质材料表面带电综合实验系统,对聚酰亚胺材料进行了表面充电实验。结果表明:温度不变时,聚酰亚胺表面充电平衡电位随束流密度的增大逐渐增大;束流密度不变时,聚酰亚胺表面充电平衡电位随温度升高逐渐减小。温度在243-363K范围时,柬流密度越大,温度变化对聚酰亚胺表面充电平衡电位的影响越小;温度在243~273K范围时,柬流密度越大,温度变化对聚酰亚胺表面充电平衡电位的影响越大。...

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Veröffentlicht in:量子电子学报 2018, Vol.35 (1), p.79-85
Hauptverfasser: 蒙志成, 孙永卫, 原青云, 王松, 刘浩, 周立栋
Format: Artikel
Sprache:chi
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Beschreibung
Zusammenfassung:为了研究温度、等离子体环境变化对航天器表面介质材料充电水平的影响,利用研制的温度可控航天器介质材料表面带电综合实验系统,对聚酰亚胺材料进行了表面充电实验。结果表明:温度不变时,聚酰亚胺表面充电平衡电位随束流密度的增大逐渐增大;束流密度不变时,聚酰亚胺表面充电平衡电位随温度升高逐渐减小。温度在243-363K范围时,柬流密度越大,温度变化对聚酰亚胺表面充电平衡电位的影响越小;温度在243~273K范围时,柬流密度越大,温度变化对聚酰亚胺表面充电平衡电位的影响越大。
ISSN:1007-5461