孤独症谱系障碍儿童表情面孔工作记忆的事件相关电位研究

目的探讨孤独症谱系障碍（ASD）儿童表情面孔工作记忆能力及其事件相关电位（ERP）的特点。方法以中国面孔表情图片系统为测试材料,采用事件相关电位系统分别记录16例6~12岁ASD儿童（ASD组）与14例年龄匹配的正常儿童（对照组）在完成表情面孔延迟样本匹配任务时的脑电成分,分析两组儿童脑电P3b成分的特点。结果 ASD组儿童在表情面孔工作记忆任务中的总体反应时比对照组长（1 527 ms vs 1 060 ms,P〈0.05）、正确率比对照组低（76%vs 88%,P〈0.01）。ASD组和对照组间编码加工阶段的P3b成分波幅存在差异。ASD组左侧电极的P3b成分波幅值高于右侧电极波幅（P〈0.05）,而对照组无此特点。结论学龄期ASD儿童在表情面孔编码加工阶段的P3b成分异于正常发育儿童,其表情面孔工作记忆过程可能更多地依赖于左半球相关的神经通路。