改进垂直布里奇曼法生长硒化镓单晶
当生长ε相的硒化镓单晶时,组分挥发和固液界面震荡严重损坏晶体的结晶质量。利用改进垂直布里奇曼法生长出φ19mm×65mm硒化镓单晶。X射线粉末衍射仪（XRD）和傅立叶红外光谱仪（FT-IR）分别用于测量晶体的结晶度和光学性质。红外测试表明,硒化镓晶体透过波谱较宽（0.65-16μm）和吸收系数较低（〈0.3cm-1）。...
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| Veröffentlicht in: | 无机材料学报 2014, Vol.29 (5), p.557-560 |
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| Format: | Artikel |
| Sprache: | chi |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Volltext |
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| Zusammenfassung: | 当生长ε相的硒化镓单晶时,组分挥发和固液界面震荡严重损坏晶体的结晶质量。利用改进垂直布里奇曼法生长出φ19mm×65mm硒化镓单晶。X射线粉末衍射仪（XRD）和傅立叶红外光谱仪（FT-IR）分别用于测量晶体的结晶度和光学性质。红外测试表明,硒化镓晶体透过波谱较宽（0.65-16μm）和吸收系数较低（〈0.3cm-1）。 |
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| ISSN: | 1000-324X |