基于液晶光阀和光束分析仪的Goos-Hanchen位移的简单测量

Goos-Hanchen（GH）位移只有波长数量级，在实验测量上比较困难。提出了一种基于液晶光阀（LCLV）和光束分析仪（LBP）直接测量GH位移的新方法。研究了LCLV对光偏振态调制的特性，结果发现，当外接电压发生变化时，光的偏振态也随之变化。利用LCLV对光偏振态的调制和LBP记录光斑的重心位置的变化，直接测量出TE和TM两种偏振态入射时棱镜单界面反射光束的GH位移差。这个探测方法简单，不需要复杂的外部处理电路，且实验结果与理论结果很吻合，此方法也可以进一步直接测量二维位移。