Dielectric breakdown along c-axis boundaries in magnetoelectric O2O3 for spintronic devices

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2017-07, Vol.23 (S1), p.1442-1443
Hauptverfasser:	Sun, Congli, Song, Zhewen, Street, Michael, Echtenkamp, William, Feng, Jie, Binek, Christian, Morgan, Dane, Voyles, Paul M.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Characterization of Semiconductor Materials and Devices Physical Science Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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