Développement et application d’une méthode à haute résolution angulaire pour la mesure des gradients d’orientation et des déformations élastiques par microscopie électronique à balayage

La compréhension des mécanismes de déformation dans les matériaux cristallins passe par la caractérisation fine des microstructures. Dans le cadre de la microscopie électronique à balayage, la mesure précise des gradients d’orientation et des déformations élastiques du cristal est l’objectif des mét...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Ernould, Clément
Format:	Dissertation
Sprache:	fre
Schlagworte:	Corrélation d'images numériques (CIN) Densités de dislocations géométriquement nécessaires (GND) Digital Image Correlation (DIC) Geometrically necessary dislocation densities (GND) HR-EBSD HR-TKD Microscope électronique à balayage (MEB) Scanning electron microscope (SEM) TKD on-axis
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