Diffraction résonnante des rayons X dans des systèmes multiferroïques

Le but de cette thèse est d'explorer la faisabilité d'expériences de diffraction résonante sur des systèmes multiferroïques et en particulier avec un champ/courrant électrique appliqué. Un formalisme de matrices de propagation a été développé pour simuler la réflectivité résonante, en utilisant un ensemble d'ondes propres comme base arithmétique pour le calcul. Des expériences de diffraction résonante ont été menées sur trois oxides de métaux de transition. Cette technique combinant la selectivité chimique et la sensibité à l'espace réciproque, elle a été utilisée sur des films très minces de PbTiO3 pour étudier la structure atomique d'un agencement périodique de domaines ferroélectriques. La signatures spectroscopiques observées par nos expériences de diffraction X durs sont reproduites par des simulations ab-initio FDMNES de super-cellules complexes. Dans le domaine X mous, nous avons étudié la structure antiferromagnétique cycloïdale du multiferroïque BiFeO3, et plus spécialement l'empreinte de la cycloïde sur une couche mince de Co déposée sur le matériau multiferroïque. Nous présentons également une expérience dans laquelle nous avons tenté d'explorer l'effet d'un courant électrique appliqué sur un film mince du composé à ordre de charge Pr(1-x)Ca(x)MnO3. La dernière partie est consacrée à l'instrumentation. Nous passons en revue les lignes synchrotron européennes et les diffractomètres qui permettent de faire des expériences de diffraction résonante de rayons X. Pour finir, nous détaillons un nouveau porte-échantillon que nous avons développé et testé sur le diffractomètre RESOXS, et qui permet d'appliquer un champ/courant électrique. The aim of this thesis is to explore the capabilities offered by resonant X-ray scattering for the study of multiferroic systems with a special emphasis on the feasibility of such experiments under applied electric field/current. Boundary propagation matrices formalism has been developed for the simulation of resonant reflectivity, using a set of eigenwaves as a basis for the computation. Resonant X-ray experiments were performed on three transition metal oxides. This technique combines chemical selectivity and reciprocal space information, and was used on very thin films of PbTiO3 to solve the atomic structure of a periodic pattern of ferroelectric domains. The spectroscopic signatures observed in our hard X-ray experiments are well reproduced with FDMNES ab-initio simulations of complex super cells. In the soft X-ray