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High resolution focused ion beams FIB and its applications ; the physics of liquid metal ion sources and ion optics and their application to focused beam technology
von
Orloff, Jon
,
Utlaut
,
Mark
,
Swanson, Lynwood W.
Veröffentlicht 2003
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Orloff, Jon
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Swanson, Lynwood W.
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Utlaut, Mark
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