gefundene Verfasser Kolbesen, B. O.

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   Kristallfehler in hochintegrierten Schaltkreisen aus Siliziumnitrid von Kolbesen, Bernd O., Mayer, Kurt R.

   Veröffentlicht 1979

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   Kristallfehler in hochintegrierten Schaltkreisen aus Siliziumnitrid von Kolbesen, Bernd O., Mayer, Kurt R.

   Veröffentlicht 1979

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   Analytical Techniques for Semiconductor Materials and Process Characterization Proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 89 Berlin

   Veröffentlicht 1990

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