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Entwicklung eines Meßverfahrens zur Qualitätsanalyse von MOS-Transistoren mit Hilfe der Kuhn'schen Methode für MOS-Varaktoren
Veröffentlicht 1982Abschlussarbeit Buch -
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Beiträge zur Submikron-MOS-Technologie Meßverfahren, Zuverlässigkeitsaspekte, innovative Bauelemente
Veröffentlicht 1997Abschlussarbeit Buch -
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