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Secondary ion mass spectrometry applications for depth profiling and surface characterization
Veröffentlicht 2016“… Materials characterization and analysis collection …”
DE-863
DE-862
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A practical guide to transmission electron microscopy fundamentals
Veröffentlicht 2016“… Materials characterization and analysis collection …”
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The practice of TOF-SIMS time of flight secondary ion mass spectrometry
Veröffentlicht 2016“… Materials characterization and analysis collection …”
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A practical guide to transmission electron microscopy, Volume II, Advanced microscopy = Advanced microscopy
Veröffentlicht 2016“… Materials characterization and analysis collection …”
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Spectroscopic ellipsometry practical application to thin film characterization
Veröffentlicht 2016“… Materials characterization and analysis collection 2377-4355 …”
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Principles and Applications in Chemistry, Physics, Materials Science, and Biology
Veröffentlicht 2019“… Materials Characterization and Analysis Collection …”
DE-863
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7
Raman spectroscopy Principles and applications in chemistry, physics, materials science, and biology
Veröffentlicht 2019“… Materials characterization and analysis collection …”
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8
Raman spectroscopy Principles and applications in chemistry, physics, materials science, and biology
Veröffentlicht 2019“… Materials characterization and analysis collection …”
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The practice of TOF-SIMS time of flight secondary ion mass spectrometry
Veröffentlicht 2016“… Materials characterization and analysis collection …”
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Auger electron spectroscopy practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films
Veröffentlicht 2015“… Materials characterization and analysis collection …”
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11
Raman spectroscopy Principles and applications in chemistry, physics, materials science, and biology
Veröffentlicht 2019“… Materials characterization and analysis collection …”
Buch