GaN HEMT modeling including trapping effects based on Chalmers model and pulsed S-parameter measurements von Luo, Peng 1987-

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Deep defect centers in 4H and 6H silicon carbide von Dalibor, Thomas 1968-

Tunnelionisation tiefer Störstellen in Halbleitern im elektrischen Hochfrequenzfeld von Laserstrahlung von Ziemann, Elke

Identifikation tiefer Störstellen in Siliziumkarbid mittels Radiotracer-Spektroskopie von Grillenberger, Joachim 1970-

GaN HEMT modeling including trapping effects based on Chalmers model and pulsed S-Parameter measurements von Luo, Peng

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Untersuchungen tiefer Störstellen in Al x Ga 1-x As und Ga x In 1-x P mittels DLTS von Ha, Vo Thi Thanh

Ionisation tiefer Störstellen in Halbleitern in THz-Feldern von Mayerhofer, Boris

Berechnungen der Hyperfeinwechselwirkungen tiefer Störstellen in Silizium mit Hilfe von Spindichten aus Ab-Initio-Gesamtenergierechnungen von Weihrich, Holger

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Tiefe Punktdefekte in II - VI-Halbleitern von Illgner, Michael

Spektroskopie tiefer Störstellen in Halbleitern durch Injektion von Elektronen und Licht von Kreis, Jürgen

Diffusion ionenimplantierter 4d und 5d Übergangsmetalle in GaAs, GaP und InP von Knecht, Andrea Annette

Zur Störstellenanalyse von Halbleitern ein Methodenvergleich von Klein, Günter

Eigenschaften individueller thermischer Donatoren in Silizium von Bohne, Dirk Ingmar

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Zur Elektronentheorie von Komplexen punktförmiger Eigendefekte in II - VI-Halbleitern von Kaschte, Axel

Digitale Kapazitätstransientenspektroskopie tiefer Störstellen in III-V-Halbleiterstrukturen [Halbleiterstrukturen] von Korb, Wolfgang

Charakterisierung tiefer Störstellen in Silizium anhand der differentiellen Analyse von Halleffekt- und Widerstandsmessungen von Cohausz, Ludwig

Nichtstationäre infrarot-optische Prozesse an tiefen Störstellen in III-V-Verbindungshalbleitern von Crasemann, Jan Hinrich

Untersuchung tiefer Störstellen an Schottky-Dioden auf GaAs(110)-Spaltflächen von Platen, Wolfgang

Deep centers in semiconductors a state of the art approach

Nichtstationäre infrarot-optische Prozesse an tiefen Störstellen in III-V-Verbindungshalbleitern von Crasemann, Jan Hinrich