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Abbildung der strukturellen Eigenschaften von SiC mittels IR-Nahfeldmikroskopie
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Siliziumkarbid (4H) Einkristallzüchtung, Defektcharakterisierung und Auswirkungen der Defekte auf die Eigenschaften elektronischer Bauelemente
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Numerische Simulation und Analyse bipolarer 4H-SiC-Leistungsbauelemente
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Polytypie in supraleitenden Zinndiselenid-Cobaltocen-Interkalationsverbindungen
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Elektrische und optische Charakterisierung intrinsischer Defekte in 6H-SiC
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Wachstumsphänomene und Stickstoffdotierung bei der Sublimationszüchtung von 6H-Siliciumcarbid
Veröffentlicht 2001kostenfrei
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Sublimationszüchtung und Charakterisierung von 4H- und 6H-Siliciumkarbid-Einkristallen
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Siliziumkarbid strukturelle und elektronische Eigenschaften verschiedener Polytypen
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Polytypenberechnung bei Verbindungen des Typs MXn und Strukturuntersuchungen an Übergangsmetallverbindungen
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Wachstumsphänomene und Stickstoffdotierung bei der Sublimationszüchtung von 6H-Siliciumcarbid
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Untersuchungen der ferroischen Eigenschaften der Polytypen des Antimon(III)-Oxid-Jodids Sb5O7J
Veröffentlicht 1978Abschlussarbeit Buch