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    Design, analysis and test of logic circuits under uncertainty von Krishnaswamy, Smita

    Veröffentlicht 2013
    Volltext
    Elektronisch E-Book
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    Logic testing and design for testability von Fujiwara, Hideo

    Veröffentlicht 1985
    DE-Aug4
    DE-573
    Volltext
    Elektronisch E-Book
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    A test generation and test set evaluation system for sequential logic networks von Read, William Russell

    Veröffentlicht 1980
    Abschlussarbeit Mikrofilm Buch