Pattern Recognition introduction, features, classifiers and principles

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Beyerer, Jürgen 1961- (VerfasserIn), Hagmanns, Raphael (VerfasserIn), Stadler, Daniel (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Berlin ; Boston De Gruyter Oldenbourg [2024]
Ausgabe:	2nd edition
Schriftenreihe:	De Gruyter Textbook
Schlagworte:	Merkmalsextraktion Automatische Klassifikation Mustererkennung Artificial Intelligence Data Mining Auotmation Machine Learning TB: Textbook Artificial Intelligence; Automation; Data Mining; Machine Learning Artificial Intelligence; Data Mining; Auotmation; Machine Learning Automation
Online-Zugang:	https://www.degruyter.com/isbn/9783111339191 Inhaltsverzeichnis
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