Correlative Analysis of Surfaces and Nanostructures to Understand their Physics Using AFM and SEM Thesis

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Jangid, Darshit (VerfasserIn)
Format:	Abschlussarbeit Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Munich University of Applied Sciences Munich March 1, 2024
Schlagworte:	Elektronenmikroskopie Nanostruktur Rasterkraftmikroskopie Nanomechanik Hochschulschrift
Online-Zugang:	kostenfrei
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