Systematic analysis of the impact of line-edge roughness on the X-ray scattering pattern

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1. Verfasser: Fernández Herrero, Analía (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin 2021
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Systematic analysis of the impact of line-edge roughness on the X-ray scattering pattern von Fernández Herrero, Analía

Veröffentlicht 2021
kostenfrei
Abschlussarbeit Buch