Entwicklung eines Raster-Sonden-Mikroskops (SPM) für die Analyse oberflächenadsorbierter und selbstassemblierter Nanostrukturen
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
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| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | German |
| Veröffentlicht: |
München
2020
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | kostenfrei |
| Tags: |
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| Beschreibung: | vii, 142 Blätter Illustrationen, Diagramme |
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