RGB interferometry for optical metrology

This Spotlight discusses the theoretical and experimental aspects of RGB interferometry. It also focuses on various advanced RGB interferometers and their applications for 3-D surface profiling, deformation measurements, non-destructive testing (NDT), refractive index profiling of biological cells/t...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Upputuri, Paul Kumar (VerfasserIn), Mohan, Nandigana Krishna (VerfasserIn), Kothiyal, Mahendra Prasad (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Bellingham, Washington, USA SPIE Press [2019]
Schriftenreihe:SPIE spotlight series vol. SL55
Schlagworte:
Online-Zugang:DE-1050
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