Atomic Force Microscopy

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Voigtländer, Bert (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Cham Springer [2019]
Ausgabe:	Second Edition
Schriftenreihe:	NanoScience and Technology
Schlagworte:	Spectroscopy and Microscopy Nanotechnology Nanotechnology and Microengineering Nanoscale Science and Technology Biological Microscopy Engineering Microscopy Rasterkraftmikroskopie
Online-Zugang:	DE-634 DE-91 URL des Erstveröffentlichers
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