Leakage current and defect characterization of short channel MOSFETs

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Roll, Guntrade (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Berlin Logos Verlag Berlin [2014]
Schriftenreihe:	Research at NaMLab 2
Schlagworte:	Metal oxide semiconductor field-effect transistors MOS-FET High-k-Dielektrikum Simulation Gitterbaufehler p-Kanal-FET Drain > Elektronik Leckstrom Source > Elektronik Elektrische Messtechnik Gate-Oxid Hochschulschrift
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