An introduction to time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) and its application to materials science

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Fearn, Sarah (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	San Rafael, CA Morgan & Claypool Publishers [2015] Bristol IOP Publishing [2015]
Ausgabe:	Version: 20151001
Schriftenreihe:	IOP concise physics
Schlagworte:	Werkstoffkunde Sekundärionen-Massenspektrometrie
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