ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA = Thirty-third International Symposium for Testing and Failure Analysis

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	International Symposium for Testing and Failure Analysis < 2007, San Jose, Calif.> (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Materials Park, OH ASM International 2007
Schlagworte:	TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits / General TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits / Integrated Electronic apparatus and appliances / Testing Electronics / Materials / Testing Electronics > Materials > Testing > Congresses > Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses Konferenzschrift
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