ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA = Thirty-third International Symposium for Testing and Failure Analysis
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Körperschaft: | |
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Format: | Elektronisch E-Book |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
Materials Park, OH
ASM International
2007
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Beschreibung: | Print version record |
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Beschreibung: | 1 online resource (xvi, 356 pages) illustrations |
ISBN: | 9781615030903 1615030905 |