ISTFA 2007 proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA = Thirty-third International Symposium for Testing and Failure Analysis

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium for Testing and Failure Analysis < 2007, San Jose, Calif.> (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Materials Park, OH ASM International 2007
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Beschreibung
Beschreibung:Print version record
Beschreibung:1 online resource (xvi, 356 pages) illustrations
ISBN:9781615030903
1615030905