Electromigration in ULSI interconnections
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Hackensack, N.J.
World Scientific
c2010
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| Schriftenreihe: | International series on advances in solid state electronics and technology
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| Schlagworte: | |
| Tags: |
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