Pattern recognition introduction, features, classifiers and principles

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Beyerer, Jürgen 1961- (VerfasserIn), Nagel, Matthias (VerfasserIn), Richter, Matthias (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin ; Boston De Gruyter Oldenbourg [2018]
Schriftenreihe:De Gruyter Textbook
De Gruyter Graduate
Schlagworte:
Artificial Intelligence
Automation
Data Mining
Machine Learning
Maschinelles Lernen
Mustererkennung
Künstliche Intelligenz
Online-Zugang:DE-1043
DE-1046
DE-Aug4
DE-573
DE-M347
DE-92
DE-898
DE-859
DE-860
DE-188
DE-863
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DE-858
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