Conductive atomic force microscopy applications in nanomaterials

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Lanza, Mario (HerausgeberIn)
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Weinheim, Germany Wiley-VCH [2017]
Schlagworte:	Rasterkraftmikroskopie Elektrische Leitfähigkeit Chemie Chemistry Dünne Schichten, Oberflächen u. Grenzflächen Electrical & Electronics Engineering Electronic Materials Elektronische Materialien Elektrotechnik u. Elektronik Materials Science Materialwissenschaften Microscopy Mikroskopie Nanomaterial Nanomaterialien Nanomaterials Nanotechnologie Nanotechnology Thin Films, Surfaces & Interfaces Aufsatzsammlung
Online-Zugang:	FHD01 http://www.wiley-vch.de/publish/dt/books/ISBN978-3-527-34091-0/ Inhaltsverzeichnis
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Ähnliche Einträge