Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Joy, David C. 1943- (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	New York Oxford University Press 1995
Schriftenreihe:	Oxford series in optical and imaging sciences 9
Schlagworte:	Electron microscopy > Computer simulation Electron probe microanalysis > Computer simulation Monte Carlo method Elektronenmikroskopie Monte-Carlo-Simulation Elektronenstrahlmikroanalyse
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Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis von Joy, David C.

Veröffentlicht 1995

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