System-on-chip test architectures nanometer design for testability

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Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Amsterdam Morgan Kaufmann Publishers c2008
Schriftenreihe:Morgan Kaufmann series in systems on silicon
Schlagworte:
Systems on a chip > Testing
Integrated circuits > Very large scale integration > Testing
Integrated circuits > Very large scale integration > Design
VLSI
Patentschrift
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