Nanoscale AFM and TEM Observations of Elementary Dislocation Mechanisms

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Veselý, Jozef (VerfasserIn)
Format:	Abschlussarbeit Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Cham Springer [2017]
Schriftenreihe:	Springer Theses, Recognizing Outstanding Ph.D. Research
Schlagworte:	Physics Condensed matter Spectroscopy Microscopy Materials science Spectroscopy and Microscopy Characterization and Evaluation of Materials Condensed Matter Physics Numerical and Computational Physics, Simulation Hochschulschrift
Online-Zugang:	TUM01 UBM01 UBT01 URL des Erstveröffentlichers
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