Intelligent testing with the WISC-V

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Kaufman, Alan S. (VerfasserIn), Raiford, Susan Engi (VerfasserIn), Coalson, Diane L. (VerfasserIn)
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Hoboken Wiley 2016
Ausgabe:First edition
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:xviii, 814 Seiten
ISBN:9781118589236