Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Sarid, Dror (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	New York Oxford University Press 1994
Ausgabe:	Rev. ed
Schriftenreihe:	Oxford series in optical and imaging sciences 5
Schlagworte:	SCIENCE / Microscopes & Microscopy Microscopia Scanning force microscopy Surfaces (Physics) Rasterkraftmikroskopie Abtastsystem Elektronenmikroskop Festkörperoberfläche Rastertunnelmikroskopie Tunneleffekt
Online-Zugang:	DE-1046 DE-1047 Volltext
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