ESD failure mechanisms and models

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Voldman, Steven H. (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Chichester, West Sussex, U.K. J. Wiley 2009
Schlagworte:	TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Microelectronics TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Digital Electric discharges Electrostatics Integrated circuits / Protection Integrated circuits / Reliability Integrated circuits / Testing Semiconductors / Failures Semiconductors > Failures Integrated circuits > Protection Integrated circuits > Testing Integrated circuits > Reliability
Online-Zugang:	FAW01 FAW02 Volltext
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