ESD failure mechanisms and models

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Voldman, Steven H. (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Chichester, West Sussex, U.K. J. Wiley 2009
Schlagworte:
Online-Zugang:FAW01
FAW02
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Failure analysis and ESD -- Failure analysis tools, models, and physics of failure -- CMOS failure mechanisms -- CMOS circuits : receivers and off-chip drivers -- CMOS integration -- SOI ESD failure mechanisms -- RF CMOS and ESD -- Micro-electromechanical systems -- Gallium arsenide -- Smart power, LDMOS and BCD technology -- Magnetic recording -- Photo-masks and reticles : failure mechanisms
Beschreibung:1 Online-Ressource (xxiv, 384 p.)
ISBN:0470747250
0470747269
9780470747254
9780470747261