Semiconductor strain metrology principles and applications

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Wong, Terence K. S. (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	[Saif Zone, Sharjah, U.A.E] Bentham Science [2012]
Schlagworte:	TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits / General TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits / Integrated Semiconductors > Design and construction > Materials Compound semiconductors > Design and construction > Materials Silicon-on-insulator technology
Online-Zugang:	FAW01 FAW02 Volltext
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