Semiconductor strain metrology principles and applications
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
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Format: | Elektronisch E-Book |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
[Saif Zone, Sharjah, U.A.E]
Bentham Science
[2012]
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Schlagworte: | |
Online-Zugang: | FAW01 FAW02 Volltext |
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Beschreibung: | Includes bibliographical references and index |
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Beschreibung: | 1 Online-Ressource (136 p. :) |
ISBN: | 1608053598 9781608053599 |