Semiconductor strain metrology principles and applications

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wong, Terence K. S. (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: [Saif Zone, Sharjah, U.A.E] Bentham Science [2012]
Schlagworte:
Online-Zugang:FAW01
FAW02
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references and index
Beschreibung:1 Online-Ressource (136 p. :)
ISBN:1608053598
9781608053599