Defects in semiconductors

Bibliographische Detailangaben

Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Amsterdam [u.a.] Elsevier, Academic Press 2015
Ausgabe:	1. ed.
Schriftenreihe:	Semiconductors and semimetals 91
Schlagworte:	Halbleiter Gitterbaufehler
Online-Zugang:	Volltext
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