Defektuntersuchungen an Halbleiter-Nanostrukturen

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Tischer, Ingo 1973- (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: München Verl. Dr. Hut 2014 [erschienen] 2015
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:Physik
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltstext
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Beschreibung
Beschreibung:202 S. Ill., graph. Darst. 210 mm x 148 mm, 314 g
ISBN:9783843920711
3843920710