Radiation Effects in Advanced Semiconductor Materials and Devices

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Claeys, Cor L. 1951- (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg Springer Berlin Heidelberg 2002
Schriftenreihe:	Springer Series in Materials Science 57
Schlagworte:	Physics Crystallography Electronics Optical materials Surfaces (Physics) Characterization and Evaluation of Materials Optical and Electronic Materials Surfaces and Interfaces, Thin Films Electronics and Microelectronics, Instrumentation Halbleiter Strahlenschaden Halbleiterbauelement
Online-Zugang:	Volltext
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