Characterization of crystal growth defects by X-Ray methods proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Models, held August 29 - September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Tanner, Brian K. 1947- (HerausgeberIn), Bowen, David Keith 1940- (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch Tagungsbericht E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston, MA Springer US 1980
Schriftenreihe:Nato Advanced Study Institutes Series, Series B. Physics 63
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
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