Scanning probe microscopy atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Voigtländer, Bert (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Berlin ; Heidelberg Springer [2015]
Schriftenreihe:	NanoScience and Technology
Schlagworte:	Rastersondenmikroskopie
Online-Zugang:	DE-91 DE-20 URL des Erstveröffentlichers Abstract Inhaltsverzeichnis
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