Electrical Characterization of HfO2-based embedded ReRAM-Structures: A comperative Study

Photonik

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Kubotsch, Steffen (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Wildau TH 2013
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