Leakage current and defect characterization of short channel MOSFETs
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Berlin
Logos Berlin
2012
|
| Schriftenreihe: | Research at NaMLab
2 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | http://d-nb.info/1028392605/34 Inhaltstext https://nbn-resolving.org/urn:nbn:de:bvb:29-opus-38950 kostenfrei Inhaltsverzeichnis |
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