Extended defects in semiconductors electronic properties, device effects and structures

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Holt, David B. (VerfasserIn), Yacobi, B. G. (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Cambridge [u.a.] Cambridge University Press 2007
Ausgabe:	1. publ.
Schlagworte:	Semiconducteurs - Défauts Semiconductors > Defects Gitterbaufehler Halbleiter
Online-Zugang:	Volltext
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