Special issue XV IMEKO TC4 Symposium on Novelties in Electrical Measurements and Instrumentation and XII International Workshop on ADC Modelling and Testing
Gespeichert in:
| Körperschaften: | , |
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| Format: | Tagungsbericht Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Amsterdam [u.a.]
Elsevier
2010
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| Schriftenreihe: | Computer standards & interfaces
32,3 |
| Schlagworte: | |
| Tags: |
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