Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits 2. ed.

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Sachdev, Manoj (VerfasserIn), Pineda de Gyvez, José (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Boston, MA Springer 2007
Schriftenreihe:	Frontiers in electronic testing 34
Schlagworte:	Engineering Systems engineering Computer engineering Engineering design Electronics Circuits and Systems Electronic and Computer Engineering Electronics and Microelectronics, Instrumentation Ingenieurwissenschaften Fehlermodell VLSI CMOS Testen
Online-Zugang:	DE-634 Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Ähnliche Einträge