Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Werth, Nadine (VerfasserIn)
Format: Abschlussarbeit Buch
Sprache:German
Veröffentlicht: Aachen Shaker 2009
Schriftenreihe:Reports on measurement and sensor systems
Schlagworte:
Online-Zugang:Inhaltsverzeichnis
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 c 4500
001 BV035811616
003 DE-604
005 00000000000000.0
007 t|
008 091105s2009 xx ad|| m||| 00||| ger d
020 |a 9783832284121  |9 978-3-8322-8412-1 
035 |a (OCoLC)439760362 
035 |a (DE-599)BVBBV035811616 
040 |a DE-604  |b ger  |e rakwb 
041 0 |a ger 
049 |a DE-91  |a DE-12 
082 0 |a 681.25  |2 22/ger 
082 0 |a 621.36  |2 22/ger 
082 0 |a 620.0044  |2 22/ger 
100 1 |a Werth, Nadine  |e Verfasser  |0 (DE-588)139021027  |4 aut 
245 1 0 |a Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie  |c Nadine Werth 
264 1 |a Aachen  |b Shaker  |c 2009 
300 |a II, 128 S.  |b Ill., graph. Darst. 
336 |b txt  |2 rdacontent 
337 |b n  |2 rdamedia 
338 |b nc  |2 rdacarrier 
490 0 |a Reports on measurement and sensor systems 
502 |a Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2009 
650 7 |a Array  |2 swd 
650 7 |a Formmessung  |2 swd 
650 7 |a Mikrooptik  |2 swd 
650 7 |a Speckle-Interferometrie  |2 swd 
650 7 |a Spiegel  |2 swd 
650 7 |a Technische Oberfläche  |2 swd 
655 7 |0 (DE-588)4113937-9  |a Hochschulschrift  |2 gnd-content 
856 4 2 |m DNB Datenaustausch  |q application/pdf  |u http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=018670528&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA  |3 Inhaltsverzeichnis 
943 1 |a oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018670528 

Datensatz im Suchindex

DE-BY-TUM_call_number 0001 DM 27815
DE-BY-TUM_katkey 1711925
DE-BY-TUM_location Mag
DE-BY-TUM_media_number 040007009158
_version_ 1820807879511244800
adam_text INHALTSVERZEICHNIS 1 EINLEITUNG 1 2 GRUNDLAGEN SPECKLE-MESSTECHNIK 5 2.1 SPECKLE-EFFEKT 5 2.2 SPECKLE-INTERFEROMETRIE 7 2.3 EMPFINDLICHKEITSVEKTOR 8 2.4 INTERFEROMETERARTEN 10 2.4.1 OUT-OF-PLANE-INTERFEROMETER 10 2.4.2 SHEARING-INTERFEROMETER 11 2.4.3 IN-PLANE-INTERFEROMETER 12 2.5 DEFORMATIONSMESSUNG 14 2.6 FORMVERMESSUNG 15 2.6.1 ZWEI-WELLENLAENGEN-VERFAHREN 16 2.6.2 ZWEI-WINKEL-VERFAHREN 18 2.7 PHASENSCHIEBEN 18 2.7.1 ALGORITHMEN 19 2.7.2 ZEITLICHES PHASENSCHIEBEN 23 2.7.3 RAEUMLICHES PHASENSCHIEBEN 24 2.7.4 PHASENBERECHNUNG IM FREQUENZBEREICH 26 2.8 ENTFALTUNG 27 3 FORMVERMESSUNG MIT RAEUMLICHER PHASENMODULATION 31 3.1 GRENZEN DER AUFLOESBARKEIT 31 3.2 DESENSIBILISIERTE FORMVERMESSUNG 33 3.2.1 PUNKTUELLE AUSWERTUNG 36 3.2.2 FLAECHIGE AUSWERTUNG 37 3.2.3 NEUE INTERPRETATION DER MESSRESULTATE 39 3.3 EINBINDUNG DER RAEUMLICHEN PHASENMODULATION IN DEN MESSABLAUF 42 3.3.1 ALTERNATIVER MESSABLAUF 44 3.3.2 VORTEIL DER DESENSIBILISIERTEN FORMVERMESSUNG ... 45 BIBLIOGRAFISCHE INFORMATIONEN HTTP://D-NB.INFO/996020136 DIGITALISIERT DURCH INHALTSVERZEICHNIS 3.4 RAEUMLICHE PHASENMODULATOREN 46 4 EXPERIMENTELLE ANORDNUNG 49 4.1 INTEGRIERTES MIKROSPIEGELARRAY (MSA) 49 4.1.1 AUFBAU MSA 49 4.1.2 FUNKTION MSA 52 4.1.3 KOMMUNIKATION ZWISCHEN MSA UND RECHNER ... 55 4.2 INTEGRATION DES MSA IN ESPI-MESSSYSTEM ZUR FORMVER- MESSUNG 58 4.2.1 POSITIONIERUNG IM MESSOBJEKTPFAD 59 4.2.2 POSITIONIERUNG IM REFERENZPFAD 61 4.2.3 VERGLEICH BEIDER MESSSYSTEME 64 5 MESSUNGEN UND RESULTATE 67 5.1 AUTOMATISIERTE DETEKTION VON OBERFLAECHENBEREICHEN MIT GROSSEN HOEHENGRADIENTEN 67 5.1.1 VORVERARBEITUNG 68 5.1.2 ERKENNUNG VON PHASENUEBERGAENGEN 72 5.1.3 LOKALISIERUNG VON OBERFLAECHENBEREICHEN MIT GROSSEN HOEHENGRADIENTEN 75 5.2 MESSERGEBNISSE DESENSIBILISIERTER FORMVERMESSUNGEN ... 79 5.3 EINSATZ VON BILDBEARBEITUNG VS. MSA ZUR AUFLOESUNGSER- HOEHUNG 82 5.4 KOMPENSATION VON ABBILDUNGSFEHLERN IM MESSSYSTEM ... 82 5.4.1 LINSEN-ABERRATIONEN 83 5.4.2 INTERFERENZEN DURCH MSA-SCHUTZGLAS 94 5.4.3 BEUGUNG AM MSA 100 6 SIMULATION DER BEUGUNGSERSCHEINUNGEN AM MIKROSPIEGELARRAY 103 6.1 FRESNELBEUGUNG UND FRAUNHOFERBEUGUNG 103 6.2 VERGLEICH VON SIMULATIONEN FUER NAHFELD- UND FERNFELDKAL- KULATIONEN 106 6.3 QUALITAET DES SIMUIATIONSMODELLS 109 6.4 EINFLUSS EINER DETAILGETREUEN MODELLIERUNG 111 7 ZUSAMMENFASSUNG UND AUSBLICK 115 LITERATU
any_adam_object 1
author Werth, Nadine
author_GND (DE-588)139021027
author_facet Werth, Nadine
author_role aut
author_sort Werth, Nadine
author_variant n w nw
building Verbundindex
bvnumber BV035811616
ctrlnum (OCoLC)439760362
(DE-599)BVBBV035811616
dewey-full 681.25
621.36
620.0044
dewey-hundreds 600 - Technology (Applied sciences)
dewey-ones 681 - Precision instruments and other devices
621 - Applied physics
620 - Engineering and allied operations
dewey-raw 681.25
621.36
620.0044
dewey-search 681.25
621.36
620.0044
dewey-sort 3681.25
dewey-tens 680 - Manufacture of products for specific uses
620 - Engineering and allied operations
discipline Handwerk und Gewerbe / Verschiedene Technologien
Elektrotechnik / Elektronik / Nachrichtentechnik
format Thesis
Book
fullrecord <?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><collection xmlns="http://www.loc.gov/MARC21/slim"><record><leader>01511nam a2200409 c 4500</leader><controlfield tag="001">BV035811616</controlfield><controlfield tag="003">DE-604</controlfield><controlfield tag="005">00000000000000.0</controlfield><controlfield tag="007">t|</controlfield><controlfield tag="008">091105s2009 xx ad|| m||| 00||| ger d</controlfield><datafield tag="020" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">9783832284121</subfield><subfield code="9">978-3-8322-8412-1</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(OCoLC)439760362</subfield></datafield><datafield tag="035" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">(DE-599)BVBBV035811616</subfield></datafield><datafield tag="040" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-604</subfield><subfield code="b">ger</subfield><subfield code="e">rakwb</subfield></datafield><datafield tag="041" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">ger</subfield></datafield><datafield tag="049" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">DE-91</subfield><subfield code="a">DE-12</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">681.25</subfield><subfield code="2">22/ger</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">621.36</subfield><subfield code="2">22/ger</subfield></datafield><datafield tag="082" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">620.0044</subfield><subfield code="2">22/ger</subfield></datafield><datafield tag="100" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">Werth, Nadine</subfield><subfield code="e">Verfasser</subfield><subfield code="0">(DE-588)139021027</subfield><subfield code="4">aut</subfield></datafield><datafield tag="245" ind1="1" ind2="0"><subfield code="a">Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie</subfield><subfield code="c">Nadine Werth</subfield></datafield><datafield tag="264" ind1=" " ind2="1"><subfield code="a">Aachen</subfield><subfield code="b">Shaker</subfield><subfield code="c">2009</subfield></datafield><datafield tag="300" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">II, 128 S.</subfield><subfield code="b">Ill., graph. Darst.</subfield></datafield><datafield tag="336" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">txt</subfield><subfield code="2">rdacontent</subfield></datafield><datafield tag="337" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">n</subfield><subfield code="2">rdamedia</subfield></datafield><datafield tag="338" ind1=" " ind2=" "><subfield code="b">nc</subfield><subfield code="2">rdacarrier</subfield></datafield><datafield tag="490" ind1="0" ind2=" "><subfield code="a">Reports on measurement and sensor systems</subfield></datafield><datafield tag="502" ind1=" " ind2=" "><subfield code="a">Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 2009</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Array</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Formmessung</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Mikrooptik</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Speckle-Interferometrie</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Spiegel</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="650" ind1=" " ind2="7"><subfield code="a">Technische Oberfläche</subfield><subfield code="2">swd</subfield></datafield><datafield tag="655" ind1=" " ind2="7"><subfield code="0">(DE-588)4113937-9</subfield><subfield code="a">Hochschulschrift</subfield><subfield code="2">gnd-content</subfield></datafield><datafield tag="856" ind1="4" ind2="2"><subfield code="m">DNB Datenaustausch</subfield><subfield code="q">application/pdf</subfield><subfield code="u">http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&amp;doc_library=BVB01&amp;local_base=BVB01&amp;doc_number=018670528&amp;sequence=000001&amp;line_number=0001&amp;func_code=DB_RECORDS&amp;service_type=MEDIA</subfield><subfield code="3">Inhaltsverzeichnis</subfield></datafield><datafield tag="943" ind1="1" ind2=" "><subfield code="a">oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018670528</subfield></datafield></record></collection>
genre (DE-588)4113937-9 Hochschulschrift gnd-content
genre_facet Hochschulschrift
id DE-604.BV035811616
illustrated Illustrated
indexdate 2024-12-23T22:45:40Z
institution BVB
isbn 9783832284121
language German
oai_aleph_id oai:aleph.bib-bvb.de:BVB01-018670528
oclc_num 439760362
open_access_boolean
owner DE-91
DE-BY-TUM
DE-12
owner_facet DE-91
DE-BY-TUM
DE-12
physical II, 128 S. Ill., graph. Darst.
publishDate 2009
publishDateSearch 2009
publishDateSort 2009
publisher Shaker
record_format marc
series2 Reports on measurement and sensor systems
spellingShingle Werth, Nadine
Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie
Array swd
Formmessung swd
Mikrooptik swd
Speckle-Interferometrie swd
Spiegel swd
Technische Oberfläche swd
subject_GND (DE-588)4113937-9
title Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie
title_auth Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie
title_exact_search Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie
title_full Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie Nadine Werth
title_fullStr Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie Nadine Werth
title_full_unstemmed Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie Nadine Werth
title_short Einsatz von Mikrospiegelarrays in der elektronischen Speckle-Muster-Interferometrie
title_sort einsatz von mikrospiegelarrays in der elektronischen speckle muster interferometrie
topic Array swd
Formmessung swd
Mikrooptik swd
Speckle-Interferometrie swd
Spiegel swd
Technische Oberfläche swd
topic_facet Array
Formmessung
Mikrooptik
Speckle-Interferometrie
Spiegel
Technische Oberfläche
Hochschulschrift
url http://bvbr.bib-bvb.de:8991/F?func=service&doc_library=BVB01&local_base=BVB01&doc_number=018670528&sequence=000001&line_number=0001&func_code=DB_RECORDS&service_type=MEDIA
work_keys_str_mv AT werthnadine einsatzvonmikrospiegelarraysinderelektronischenspecklemusterinterferometrie