Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis

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Bibliographische Detailangaben
Format: Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY Springer 2007
Ausgabe:3. ed., corr. printing
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Beschreibung
Beschreibung:Hier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke
Beschreibung:XIX, 690 S. Ill., graph. Darst. 1 CD-ROM
ISBN:9780306472923