Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
Gespeichert in:
Format: | Buch |
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Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
New York, NY
Springer
2007
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Ausgabe: | 3. ed., corr. printing |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
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Beschreibung: | Hier auch später erschienene, unveränderte Nachdrucke |
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Beschreibung: | XIX, 690 S. Ill., graph. Darst. 1 CD-ROM |
ISBN: | 9780306472923 |