Infrared ellipsometry on semiconductor layer structures phonons, plasmons, and polaritons

"This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can b...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Berlin [u.a.] Springer 2004
Schriftenreihe:	Springer tracts in modern physics 209
Schlagworte:	Ellipsometry Layer structure (Solids) Ellipsometrie Mehrschichtsystem Halbleiter Dielektrische Funktion Infrarot
Online-Zugang:	Volltext
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